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    芯片設計缺陷

    芯片設計缺陷

    據(jù)報道,英偉達CEO黃仁勛最近表示,在臺積電的幫助下,英偉達最新款BlackwellAI芯片的設計缺陷已得到修復,該缺陷此前曾影響生產(chǎn)。在最近的高盛會議上,黃仁勛表示,這些芯片將在今年第四季度發(fā)貨。英偉達的Blackwell芯片采用了該公司之前產(chǎn)品大小的兩方硅片,并將它們結合在一起,形成一個單一的組件,在執(zhí)行諸如為聊天機器人提供答案之類的任務時,速度提高了30倍。...

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